ユニティSC 「ウエハー膜厚・TTV・TSV・表面粗さ・バンプ計測装置 T-Map」
TTV、各貼り合わせ基盤の厚み、成膜層の膜厚、高アスペクト比 TSV、表面粗さ計測 など、測定目的に合わせて各種センサーを準備しております。
TTV、各貼り合わせ基盤の厚み、成膜層の膜厚、高アスペクト比 TSV、表面粗さ計測 など、測定目的に合わせて各種センサーを準備しております。
ユニティSC (Unity SC) について
サプライヤー情報: ユニティSC (Unity Semiconductor SAS) FOGALE nanotech (仏・1983年設立) の半導体検査・計測部門が2016年に独立したメーカーです。フランス・グルノーブルに開発・製造拠点を持ち、欧米アジア各国で販売・サービスを展開しており、各大手ファウンダリー、OSAT、パワーデバイスメーカでの採用が着実に伸びております。日本の半導体製造業界の皆さまにもお役に立てていただけるものと確信しております。
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ユニティSC 「ウエハー自動光学検査装置」
ドイツ・ドレスデンに開発・製造拠点を持つウエハー光学検査装置メーカーの 旧HSEB Dresden GmbH社 (現 Unity Semiconductor GmbH社) は、高精度・高スループットのAOI (自動光学検査機) をワール…
ドイツ・ドレスデンに開発・製造拠点を持つウエハー光学検査装置メーカーの 旧HSEB Dresden GmbH社 (現 Unity Semiconductor GmbH社) は、高精度・高スループットのAOI (自動光学検査機) をワールドワイドに展開しております。また、FDSOIウエハー向け膜厚測定機などもお取り扱いしております。
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ユニティSC 「ウエハー表面・裏面欠陥検査装置 4Seeシリーズ」
ウエハーの裏面のみ、または表面・裏面を高速度・高精度に同時検査できる装置です。裏面の欠陥位置情報を、表面の欠陥情報に加えてアプトプットします。オプションでエッジ検査…
ウエハーの裏面のみ、または表面・裏面を高速度・高精度に同時検査できる装置です。裏面の欠陥位置情報を、表面の欠陥情報に加えてアプトプットします。オプションでエッジ検査機能も付加できます。
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ユニティSC 「ウエハー非接触ナノ形状計測装置 NST」
白色干渉技術による非接触表面粗さ計測、高アスペクト比のトレンチ計測等が可能です。高分解能、ハイスループットで品質管理工場へ貢献いたします。
白色干渉技術による非接触表面粗さ計測、高アスペクト比のトレンチ計測等が可能です。高分解能、ハイスループットで品質管理工場へ貢献いたします。
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ユニティSC ウエハー自動計測、自動光学検査、裏面検査、エッジ検査装置
フランスの半導体ウエハー測定・検査装置メーカーのユニティSC は、半導体業界の流れである次世代パッケージプロセス、パワー半導体、MEMS向けへの様々な検査技術をワールドワイド…
フランスの半導体ウエハー測定・検査装置メーカーのユニティSC は、半導体業界の流れである次世代パッケージプロセス、パワー半導体、MEMS向けへの様々な検査技術をワールドワイドに提供しております。
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