アプリケーション
薄膜化プロセスでのシリコン・基板膜厚測定(RST)
TTV,Bow,Warp
高アスペクト比TSV 計測
表面粗さ計測
バンプコプラナリティー検査
ウエハーアライメント検査
ウエハー非接触表面粗さ計測
その他の製品
サプライヤー情報: ユニティSC (Unity Semiconductor SAS) FOGALE nanotech (仏・1983年設立) の半導体検査・計測部門が2016年に独立したメーカーです。フランス・グルノーブルに開発・製造拠点を持ち、欧米アジア各国で販売・サービスを展開しており、各大手ファウンダリー、OSAT、パワーデバイスメーカでの採用が着実に伸びております。日本の半導体製造業界の皆さまにもお役に立てていただけるものと確信しております。






