変調3次元相互相関エラーフリー動的光散乱(DLS)測定装置 NanoLab 3D
高濃度の粒子サンプルの多重散乱ノイズを抑えた正確な粒子径測定。特許取得済みの変調3次元相互相関テクノロジーにより、多重散乱を効率的に抑制したDLS測定が可能。
高濃度の粒子サンプルの多重散乱ノイズを抑えた正確な粒子径測定。特許取得済みの変調3次元相互相関テクノロジーにより、多重散乱を効率的に抑制したDLS測定が可能。

エルエス インスツルメンツ社(LS Instruments)について
2010年にスイスのフリブール大学からのスピンオフにより設立されました。既存の光散乱法の限界を超える、革新的な特許取得済みの変調3D相互相関による光散乱測定技術に基づいて開発された動的光散乱測定(DLS)装置は、様々なナノ粒子の特性評価で活用されています。Showing the single result

高濃度の粒子サンプルの多重散乱ノイズを抑えた正確な粒子径測定。特許取得済みの変調3次元相互相関テクノロジーにより、多重散乱を効率的に抑制したDLS測定が可能。
高濃度の粒子サンプルの多重散乱ノイズを抑えた正確な粒子径測定。特許取得済みの変調3次元相互相関テクノロジーにより、多重散乱を効率的に抑制したDLS測定が可能。
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