AOMシステムズ社 噴霧・スプレー粒子計測装置SpraySpy
位相ドップラ法やレーザー回折法に変わる噴霧液滴粒子計測システム。 AOMシステムズ社のSpraySpyは、独自のパルス変位法（Time-Shift technique）を用いた、全く新しい噴霧液滴/スプレー粒子計測システムです。国際特許を取得しており、位相ドップラー法やレーザー回折法など既存技術では困難であった、不透明あるいは非球形粒子および高密度スプレー粒子のサイズや移動速度、粒子密度などを同時に計測することが可能です。 また、後方散乱光を検出するためレーザー発信部と受光部が同一となり、面倒な受光部の位置調整作業を省略することが可能です。
位相ドップラ法やレーザー回折法に代わる噴霧液滴粒子計測システム
AOMシステムズ社のSpraySpyは、独自のパルス変位法（Time-Shift technique）を用いた、全く新しい噴霧液滴・スプレー粒子計測システムです。国際特許を取得しており、位相ドップラー法やレーザー回折法など既存技術では困難であった不透明あるいは非球形粒子および高密度スプレー粒子のサイズや移動速度、粒子密度などを同時に計測することが可能です。また、後方散乱光を検出するためレーザー発信部と受光部が同一となり、面倒な受光部の位置調整作業を省略することが可能です
仕様
| 測定パラメーター | 粒子サイズ・速度（リアルタイム） / 体積流量 / 粒子密度 運動量・エネルギー / 屈折率 |
|---|---|
| 測定可能粒子速度 | 0.1～50 m/s |
| 測定可能粒子タイプ | 透明 / 不透明 / 混合物 |
| 測定距離 | 10～150 mm（特注仕様可） |
| 測定容積 | ～200 x 200 x 200 um |
| シグナル検出 | 後方散乱光 |
| 必要光路 | 1 |
| レーザー光源 | 405 nm, 50 mW, Class 3B |
| 装置サイズ | センサー:370 x 150 x 40 mm データ処理装置:460 x 300 x 140 mm+モニター |
| 動作環境 | 温度：-30～ +70 ℃ 電源：110～240 V |
主要産業
- 航空宇宙
- 自動車
- マシナリー・製造
Brand
AOMシステムズ社のSpraySpyは、独自のパルス変位法（Time-Shift technique）を用いた、全く新しい噴霧液滴/スプレー粒子計測システムです。国際特許を取得しており、位相ドップラー法やレーザー回折法など既存技術では困難であった、不透明あるいは非球形粒子および高密度スプレー粒子のサイズや移動速度、粒子密度などを同時に計測することが可能です。
